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      • HJS-I介質損耗(介電常數)測試系統

        高頻介質損耗(介電常數)測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的*佳解決方案。

        時間:2023-06-17
        型號:HJS-I
        廠商性質:生產廠家
        瀏覽量:1667
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